б) в зависимости от изменения диагонали отпечатка: H = (d, - d 2) / 7 ± ( d r - d 22)/8R, где hi, Һ2 и 1|, Ь — глубина и длина лунки до и после изнашивания: г — радиус вращения резца при нарезании лунки; di, d: — диагональ отпечатка пирамиды Виккерса до и после изнашивания; R — радиус износа поверхности; «+» — для выпуклых поверхностей; «—» — для вогнутых. Рис. 41 Схема к измерению износа по методу искусственных баз Необходимость повреждения исследуемых поверхностей в отдельных случаях может привести к искажению картины изнашивания и является недостатком данного метода. При методе поверхностной активации обследуемая поверхность (участок, точка) детали подвергаются предварительному облучению потоком альфа-частиц. В результате в микрообъеме образуется смесь радиоактивных изотопов, испускающая гамма-излучение. По мере изнашивания активированного объема уменьшается активность излучения, регистрируемого радиометрической аппаратурой (рис. 42). Дефектация деталей по геометрическим признакам (износы, деформации, шероховатость и т. п.) составляет важную информацию о техническом состоянии обследуемых объектов. Однако для оценки ресурсных параметров необходима еще информация о внутреннем состоянии материала деталей, определяющем их статическую и динамическую прочность.
RkJQdWJsaXNoZXIy MTExODQxMg==